各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計

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公司名稱 北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
品牌 其他品牌
型號
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 代理商
更新時間 2025/5/17 16:18:04
訪問次數(shù) 228

產(chǎn)品標(biāo)簽

Strokes 偏振計應(yīng)力雙折射儀光學(xué)測量儀器光學(xué)檢測設(shè)備光學(xué)材料測試儀器

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公司介紹 主營產(chǎn)品

北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于 2010 年，專業(yè)代理歐美（德國、瑞士、美國、波蘭等）高精度的光學(xué)檢測設(shè)備，致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括：

光學(xué)檢測產(chǎn)品：應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測厚儀/測角儀/可調(diào)相位延遲波片等；

激光檢測產(chǎn)品：激光功率計、能量計及光束質(zhì)量分析儀等；

集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺、偏振光轉(zhuǎn)換器等

顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進(jìn)片機、高速相機ICCD、像增強器300ps門控時間、FLIM、高精度脈沖延時器等。

值得一提的是，近年來公司科研團隊自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀，CRD光腔衰蕩法高反測量儀，偏心曲率測量儀等產(chǎn)品，為今后的發(fā)展壯大奠定了堅實的基礎(chǔ)。

展開

測角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設(shè)備，波片相位延遲，剪切

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應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計是一種用于測量米勒矩陣樣本的正常入射偏振反射顯微鏡。它可以用來評估RTISO 核燃料熱解碳層的光學(xué)各向異性（OPTAF)。該系統(tǒng)是根據(jù)Dr.G.e.Jellison Jr等人在在論文中提出的“使用雙調(diào)制器廣義橢圓測微顯微鏡（2-MGME)的垂直入射廣義橢圓儀。該橢圓儀是一個重大的突破，光學(xué)各向異性測量技術(shù)更快、收集更多的數(shù)據(jù)。該系統(tǒng)是圍繞兩個Hinds Instruments 系列I 光彈性調(diào)制器（PEMs)建立.Hinds Instruments公司是基于PEM偏振調(diào)制原理的科研和工業(yè)儀器和技術(shù)的開發(fā)商。PEM被廣泛應(yīng)用于高靈敏度光學(xué)測量設(shè)備的研究和開發(fā)應(yīng)用。2-MGEM橢圓儀測量光束偏振狀態(tài)的變化，這些光偏振束態(tài)是由TRISO燃料顆粒的各層反射而來的。該系統(tǒng)采用高精度定位平臺，測量點大小為5 μm，在被測量的每個燃料顆粒上收集數(shù)千個點。通過自動化軟件計算并報告了各個采樣點的線性衰減、線性延遲和反射強度。然后用這些參數(shù)計算每個熱解炭層(IPyC 和OPyC)的OPTAF測定。

各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計由四個主要部件組成：

掃描模塊
主電機外殼
光源
計算機系統(tǒng)

各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計