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WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器PX 2127
LTS系列國產(chǎn)納米級白光干涉測厚儀PX 2625
S neox 0.65XSensofar平面度測量白光干涉儀PX 4775
KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀PX 3365
SR-Mapping反射膜厚儀PX 3202
F20-UV/F20-NIR/F20-EXRFilmetrics F20 白光干涉測厚儀儀PX 3169
S wide3D光學輪廓儀PX 1800
白光干涉儀PX 3315
SuperViewW1非接觸式3D白光干涉儀PX 7376
FR-pRoThetametrisis膜厚測量儀PX 7110
增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)PX 2808
AM-7000系列白光干涉測厚儀PX 3592
Lambda Vision TFW-100分光膜厚儀PX 2228
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100PX 5058
WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器PX 2984
AE-100M蘇州萬濠白光干涉儀 AE-100MPX 3456
FSM 413紅外干涉測量設備PX 2504
WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器PX 3467
悉識膜厚儀NS-30PX 0
悉識膜厚儀NS-20PX 0
WIP德國Werth WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器PX 2127
集成式3D共焦白光干涉儀測量頭S martPX 4775
集成式3D白光干涉共聚焦測量頭S mart2PX 4775
RT-V反射透射測量儀PX 3202
SR-M顯微膜厚儀PX 3202
SR-C反射膜厚儀PX 3202
S lynx 2緊湊型3D輪廓儀PX 1800
S Neox3D光學輪廓儀PX 1800
SuperViewW1白光干涉測量膜厚儀器PX 7376
SuperViewW1白光干涉表面3D輪廓儀PX 7376
SuperViewW1白光干涉3D顯微測量儀PX 7376
SuperViewW1納米級白光干涉三維形貌分析測量儀PX 7376
SuperViewW1納米級白光干涉三維測量儀PX 7376
SuperViewW1三維形貌顯微白光干涉儀PX 7376
FR-pRo:Thetametrisis膜厚測量儀PX 7110
SuperViewW1白光干涉儀三維表面測量系統(tǒng)PX 7376
SuperViewW1國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀PX 7376
SuperViewW1納米級高精度白光干涉測厚儀PX 7376
SuperViewW1白光干涉三維光學輪廓儀PX 7376
SuperViewW1白光干涉光學3D表面形貌輪廓儀PX 7376
粒度儀
試驗箱
試驗機
熱分析儀器
無損檢測
燃燒測定儀
測厚儀
硬度計
流變儀/粘度計
表面/界面性能測定儀
磁學測量儀器
其它物性測試分析儀器
WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器
德國Werth WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器
國產(chǎn)納米級白光干涉測厚儀
Filmetrics F20 白光干涉測厚儀儀
3D光學輪廓儀
緊湊型3D輪廓儀
薄膜厚度測量儀
非接觸式3D白光干涉儀
Thetametrisis膜厚測量儀
增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質譜
上海平軒科學儀器有限公司
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