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能量色散X射線熒光光譜儀的功能與基本原理2022/05/18
能量色散X射線熒光光譜儀綜合了常規(guī)測(cè)試(普通模式)和*的光路系統(tǒng)測(cè)試(超銳模式)，普通模式能完成全元素，貴金屬，RoHS，鍍層等常規(guī)測(cè)試，超銳模式能對(duì)客戶比較關(guān)心的低含量元素進(jìn)行測(cè)試。主要是使用儀器*超銳光路系統(tǒng)，降低儀器的背景噪音，提高儀器的檢出能力，從而提高儀器的整體檢測(cè)性能。功能：能量色散X射線熒光光譜儀是基于X射線的一種分析手段，當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時(shí)，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結(jié)合能，將該軌道電子逐出，形成一個(gè)空穴使原子處于激發(fā)態(tài)，由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定，外層電子向空穴躍
rohs六項(xiàng)2022/01/25
rohs六項(xiàng)2002/95EC關(guān)于在電子電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令（RoHS）歐盟《關(guān)于在電子電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)的第2002/95/EC號(hào)指令（RoHS指令），要求從2006年7月1日起，各成員國應(yīng)確保在投放于市場(chǎng)的電子和電氣設(shè)備中限制使用鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚六種有害物質(zhì)。rohs六項(xiàng)RoHSrohs六項(xiàng)中對(duì)六種有害物規(guī)定的上限濃度：鎘（Cd）：＜100ppm鉛（Pb）：＜1000ppm汞（Hg）：＜1000ppm六價(jià)鉻（Cr6+）：＜1000ppm多溴聯(lián)
X熒光光譜儀的技術(shù)原理和兩大分類介紹2021/01/08
X熒光光譜儀主要用途X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，也可以獲得各元素的含量信息。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。X熒光光譜儀的技術(shù)原理：元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：λ=K(Z?s)?2式中K和S是常數(shù)。而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒
rohs環(huán)保檢測(cè)儀的檢測(cè)程序是怎樣的2020/06/15
rohs環(huán)保檢測(cè)儀同時(shí)支持有線、無線寬帶、3G模式傳輸?shù)母咝阅?、高帶寬、多功能、戶外型專業(yè)級(jí)監(jiān)測(cè)設(shè)備。環(huán)保檢測(cè)儀采用光散射法進(jìn)行粉塵顆粒物分析技術(shù)，和成熟的噪音監(jiān)測(cè)模塊集成設(shè)計(jì)，數(shù)據(jù)曲線平穩(wěn)，方便安裝，安全穩(wěn)。rohs環(huán)保檢測(cè)儀的檢測(cè)程序：1、覆蓋實(shí)力適配多家國內(nèi)檢測(cè)線廠家，檢測(cè)產(chǎn)品已服務(wù)于多家檢測(cè)站檢測(cè)機(jī)構(gòu)配套及使用；2、采集實(shí)力兼容柴油車、天然氣、汽油車多種通訊協(xié)議，全面覆蓋國標(biāo)OBDII標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議；穩(wěn)定全面的數(shù)據(jù)采集能力，完整性和速度優(yōu)于同行；3、檢測(cè)記錄管理檢測(cè)員獨(dú)立賬號(hào)管理功能及本地記錄
rohs環(huán)保檢測(cè)儀工作的外部環(huán)境和測(cè)試注意事項(xiàng)2020/04/27
rohs環(huán)保檢測(cè)儀工作的外部環(huán)境1、周圍強(qiáng)磁場(chǎng)干擾設(shè)備合理的工作環(huán)境，要求在沒有電機(jī)、振動(dòng)、電磁、高壓或有高頻率電焊器等電磁干擾的地方安裝，否則會(huì)干擾設(shè)備的譜形或造成設(shè)備不能正常工作。2、環(huán)境溫度，濕度的影響應(yīng)保持室溫20～25℃為宜，氣溫過高或過低都會(huì)影響設(shè)備的正常運(yùn)作，所以配有空調(diào)；空氣中相對(duì)濕度應(yīng)保持rohs環(huán)保檢測(cè)儀的測(cè)試注意事項(xiàng)：1.測(cè)試工作臺(tái)及儀器保持潔凈，如有雜物灰塵可用干軟布或酒精棉球擦拭干凈。2.測(cè)試物件放置工作臺(tái)時(shí)注意不可使塵粒掉入其中，以防污染工作臺(tái)窗口導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確。3.
金屬合金分析儀的主要功能特點(diǎn)匯總2020/03/27
金屬合金分析儀的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。另外，在金屬分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。金屬合金分析儀的主要功能特點(diǎn)：1、程序采用目前流行的VC6.0語言編制而成，各種功能的操作及顯示均采用在主屏幕上彈出所需功能窗口的做法，使操作者感到層次清楚、一目了然。2、測(cè)試過程校準(zhǔn)，保證測(cè)量精度
X射線熒光光譜儀的構(gòu)造和測(cè)試步驟2020/03/05
X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。X射線熒光光譜儀的構(gòu)造：主要由以下幾部分組成：（1）激發(fā)系統(tǒng)：主要部件為X射線管，可以發(fā)出原級(jí)X射線（一次X射線），用于照射樣品激發(fā)熒光X射線；（2）分光系統(tǒng)：對(duì)來自樣品待測(cè)元素發(fā)出的特征熒光X射線進(jìn)行分辨（主要為分光晶體）；（
手持式便攜式光譜儀操作時(shí)的注意事項(xiàng)2020/01/27
手持式便攜式光譜儀是定量分析，測(cè)定結(jié)果精準(zhǔn)，重復(fù)性及長期穩(wěn)定性好。是定性半定量分析，用于鑒別材料牌號(hào)，測(cè)試方便，但無法測(cè)量精度要求高的材料。手持式便攜式光譜儀屬于有損檢測(cè)，激發(fā)過程中會(huì)在材料表面形成直徑約8mm的小坑，對(duì)于貴金屬和裝飾用金屬都不適合用光譜儀；屬于無損檢測(cè)，測(cè)試本身不會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生任何不良影響。在靈活性上利用率也更高，檢測(cè)樣品的大小要適合臺(tái)面，過大、過長的樣品都要進(jìn)行破壞才能檢測(cè)。手持式便攜式光譜儀操作時(shí)的注意事項(xiàng)：1.避免長時(shí)間放在陽光下，因?yàn)檫@樣容易使液晶顯示器損壞，環(huán)境濕度0-
天瑞X射線熒光光譜儀的用途和性能特點(diǎn)2020/01/14
天瑞X射線熒光光譜儀技術(shù)主要用于水泥、金屬、采礦、石油、化學(xué)品、環(huán)境及食品等領(lǐng)域的無損元素分析。理論上可以測(cè)量元素周期表中鈹以后的每一種元素，在實(shí)際應(yīng)用中，有效的元素測(cè)量范圍為9號(hào)元素到92號(hào)元素，濃度范圍從100%至亞ppm級(jí)。天瑞X射線熒光光譜儀的系統(tǒng)特點(diǎn)：特殊光路系統(tǒng)采用特殊的光路系統(tǒng)，可滿足不同基體中痕量元素的測(cè)量，提高信噪比，降低檢出限。400W大功率X光源400W大功率光源使難以激發(fā)的痕量元素獲得更高的計(jì)數(shù)率，比普通EDXRF儀器的元素檢出限降低一個(gè)數(shù)量級(jí)，更加適合痕量元素的檢測(cè)。數(shù)
ROHS檢測(cè)的步驟介紹2019/12/24
ROHS檢測(cè)是由歐盟立法制定的一項(xiàng)強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)，它的全稱是《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》（RestrictionofHazardousSubstances）。主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標(biāo)準(zhǔn)，使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護(hù)。怎么做ROHS檢測(cè)？步：客戶提供產(chǎn)品圖片及BOM表（物料清單）及申請(qǐng)表第二步：億博實(shí)驗(yàn)室根據(jù)提供資料進(jìn)行報(bào)價(jià)第三步：客戶確認(rèn)報(bào)價(jià)后，簽訂申請(qǐng)表及服務(wù)協(xié)議并支付全額項(xiàng)目費(fèi)，并準(zhǔn)備好測(cè)試樣品；（具體測(cè)試樣品數(shù)量我司工作人員會(huì)和客戶對(duì)接清楚）。第四步：客
水質(zhì)重金屬分析儀的應(yīng)用與操作2019/12/18
水質(zhì)重金屬分析儀是遵循國家環(huán)境保護(hù)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的光學(xué)法重金屬在線分析儀，應(yīng)用于地表水、工業(yè)制程水和工業(yè)廢水等水質(zhì)中多種重金屬元素的同時(shí)在線分析。水質(zhì)重金屬分析儀應(yīng)用領(lǐng)域：便攜應(yīng)用于現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)急檢測(cè)如水環(huán)境污染事故應(yīng)急監(jiān)測(cè)實(shí)驗(yàn)室的重金屬檢測(cè)和分析地表水、地下水、海水、工業(yè)廢水和飲用水或其他環(huán)境水體的監(jiān)測(cè)廣泛用于檢測(cè)土壤、固體廢棄等固態(tài)物質(zhì)中的重金屬含量（通過萃取方式）水質(zhì)重金屬分析儀的操作過程：步是富集過程，將還原電勢(shì)加在工作電極上，當(dāng)電極的電勢(shì)超過某種重金屬離子的析出電勢(shì)時(shí)，溶液中該種金屬離子將被還原為
電鍍膜厚測(cè)試儀的影響因素有哪些？2019/12/13
電鍍膜厚測(cè)試儀是一款專門用于鍍層行業(yè)的厚度檢測(cè)儀，在使用中可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)軟件操作，方便性高，可控性強(qiáng)，具有多點(diǎn)測(cè)試屬性，和普通的測(cè)厚儀相比較，這種電鍍式采用的是軟件控制，在所測(cè)數(shù)據(jù)上誤差率會(huì)更低。電鍍膜厚測(cè)試儀的影響因素有哪些？1、基體金屬磁性量磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變革的影響（正在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變革能夠認(rèn)為是細(xì)微的），為了制止熱處置和冷加工因素的影響，應(yīng)使用取試件基體金屬具有不異性量的尺度片對(duì)儀器停止校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件停止校準(zhǔn)。2、基體金屬電性量基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)丈量有影響，而基
ROHS分析儀的系統(tǒng)和應(yīng)用領(lǐng)域優(yōu)勢(shì)2019/12/12
ROHS分析儀廠家的儀器用于有機(jī)物的檢測(cè)，是揮發(fā)性和半揮發(fā)性定性定量分析測(cè)試的常見方法，廣泛應(yīng)用于各種有機(jī)毒害物的殘留分析項(xiàng)目，具有檢出限低，定性能力強(qiáng)，定量結(jié)果準(zhǔn)確等特點(diǎn)，可有效地應(yīng)用于中國RoHS2.0中多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚的定性和定量分析。ROHS分析儀的分析系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)（1）12位模/數(shù)轉(zhuǎn)換器（2）3.5寸高清顯示器（3）AtomZ5101.1GHz處理器，1G內(nèi)存（4）8G工業(yè)級(jí)（PQI）CF卡,可以存儲(chǔ)更多數(shù)據(jù)（5）自定義的XPE操作系統(tǒng)，用戶使用更方便（6）一鍵式設(shè)計(jì)，測(cè)
線路板鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域2019/12/09
線路板鍍層測(cè)厚儀針對(duì)電鍍及表面處理行業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量、膜厚檢測(cè)、鍍層元素分析和電鍍液的成分分析。采用大面積高分辨率探測(cè)器，有效降低檢出限，提高測(cè)試精度；全自動(dòng)智能控制方式，一鍵式操作!線路板鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域：1、PCB板行業(yè)，鍍金鍍鎳鍍銅、鍍錫鍍銅等鍍層厚度測(cè)量；2、裝飾性鍍層鍍鉻、鍍銅、鍍鎳等鍍層厚度測(cè)量；3、緊固件螺絲及螺母防腐鍍層測(cè)量，如鐵鍍鋅、鐵鍍鎳鍍鋅等鍍層厚度測(cè)量；4、電子行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的測(cè)量；5、電子元器件，二極管、圓晶鍍層測(cè)量，如銅鍍錫、鍍銀，圓晶鍍銀、鍍硅的厚度測(cè)量；6
礦石元素分析儀的應(yīng)用2019/12/02
礦石元素分析儀是對(duì)礦石中含有的元素及其含量進(jìn)行分析，即時(shí)利用X射線輻射產(chǎn)生熒光來分析的一種儀器，主要分析各種礦石中主元素的品位、二氧化硅、磷、三氧化二鋁等元素的含量。適用于銅礦、錳礦、鉻礦、鈷礦、鐵礦、鎳礦、鋁土礦、鈦礦、磷礦、鉭鈮礦等礦石品位的分析。礦石元素分析儀的應(yīng)用介紹：1、快速普查大范圍的礦區(qū)，有效測(cè)定地帶模式，繪制礦山圖、實(shí)時(shí)勘察。2、發(fā)現(xiàn)異常狀況，做到優(yōu)先開采富礦區(qū)。3、現(xiàn)場(chǎng)快速追蹤礦化異常，有效地尋找“熱點(diǎn)”地帶，圈定礦體邊界。4、對(duì)銑頭、精礦和礦渣的分析，以建立開采和富集的過程。
x射線熒光鍍層測(cè)厚儀的原理和應(yīng)用2019/11/28
x射線熒光鍍層測(cè)厚儀可以檢測(cè)鍍金層、鍍鎳層、鍍鋅層、鍍鉻層、鍍銀層、鍍銅層、鍍錫層的厚度。x射線熒光鍍層測(cè)厚儀的原理：X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析x射線熒光鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域：1、黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).2、金屬鍍層的厚度測(cè)量電鍍液和鍍層含量
ROHS檢測(cè)儀使用中需要注意的地方2019/11/23
ROHS檢測(cè)儀是一種檢測(cè)ROHS有害物質(zhì)的檢測(cè)儀器，由手動(dòng)進(jìn)樣器、高壓恒流泵、色譜柱(可選柱溫箱)、UV紫外檢測(cè)器四單元部分以及功能強(qiáng)大的色譜軟件所組成，所有單元模塊均具有液相兼容性。ROHS檢測(cè)儀使用中需要注意的地方有：1、儀器會(huì)產(chǎn)生電離輻射,在測(cè)試時(shí)確保不要將儀器對(duì)著人；不要將儀器對(duì)著空氣做測(cè)試；不要用手拿著樣品做測(cè)試；2、ROHS測(cè)試儀在運(yùn)作狀態(tài)，勿打開儀器的防護(hù)蓋或勿將測(cè)試儀器對(duì)準(zhǔn)人體；3、每次開啟儀器和每連續(xù)工作4小時(shí)，必須對(duì)儀器進(jìn)行校驗(yàn)；4、嚴(yán)禁非專門的人員操作該儀器，操作時(shí)必須按照
全元素光譜分析儀選購注意要點(diǎn)2019/11/19
全元素光譜分析儀是以光度分析原理為基礎(chǔ)研制而成的分析儀，采用了*的線性擴(kuò)展及提高靈敏度的方法，解決了傳統(tǒng)光度法分析高組份含量偏離線性，分析低組份含量靈敏度差的問題，實(shí)現(xiàn)了大范圍、高精度地快速分析。全元素光譜分析儀選購注意要點(diǎn):1.光度準(zhǔn)確度光度準(zhǔn)確度指實(shí)際測(cè)量的光度讀數(shù)值與真值之差。它是用戶對(duì)儀器的直接要求，每個(gè)用戶都必須重視。2.雜散光它指不應(yīng)該有光的地方有了光。它是光譜測(cè)量中誤差的主要來源。這個(gè)值當(dāng)然越小越好了。3.光譜帶寬指從單色器射出的單色光譜線強(qiáng)度輪廓曲線的1/2高度處的譜帶寬度。表征
X射線熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)2019/11/14
X射線熒光光譜儀（XRF）是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時(shí)候，會(huì)放射出特征X光；不同的元素會(huì)放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波長特性。檢測(cè)器(Detector)接受這些X光，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對(duì)應(yīng)的信號(hào)。這一現(xiàn)象廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在研究金屬，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化學(xué)研究、法醫(yī)學(xué)、電子產(chǎn)品進(jìn)料品管（EURoHS）和考古學(xué)等領(lǐng)域，在某種程度上
ROHS檢測(cè)儀的原理和使用注意事項(xiàng)2019/11/09
ROHS檢測(cè)儀是一種檢測(cè)ROHS的儀器，原理是利用X射線檢測(cè)ROHS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定中的元素的含量。目前市場(chǎng)上常見的類型是X射線熒光分析儀，又分為能量色散型和波長色散型。ROHS檢測(cè)儀的工作原理：1、波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長：nλ=2dsinaθ（n=1,2,3…）式中，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長，從
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